全新的徠卡清潔度解決方案：二合一清潔度分析系統

全新的徠卡清潔度解決方案：快速識別污染源

可同時(shí)實(shí)現顆粒物視覺(jué)和化學(xué)分析的二合一系統

在清潔度分析過(guò)程中，必須盡可能快地找出污染源。徠卡顯微系統推出的清潔度專(zhuān)家解決方案現可為您提供更深入的顆粒物分析。它不僅能對顆粒物執行自動(dòng)檢測、計數、分析和分類(lèi) (按照其導致?lián)p害的危險度)，還能同時(shí)確定顆粒物的成分。如今，您在搜尋污染源時(shí)可節省 90% 的時(shí)間。此外，您可在同一工作場(chǎng)所完成全部分析。

這樣有什么意義呢？

您可在數秒鐘內掌握所有相關(guān)信息，找出影響產(chǎn)品性能和壽命的顆粒物的來(lái)源。您可更快地消除這些顆粒物，以符合日趨嚴格的 VDA 19 和 ISO 標準。在定位顆粒物來(lái)源上節省時(shí)間也能促成更具經(jīng)濟效益的清潔度分析。

那如何實(shí)現這一目標呢？

將顯微技術(shù)與激光光譜技術(shù)相結合。運行徠卡清潔度專(zhuān)家軟件的 DM6 M 顯微鏡中集成了 LIBS (激光誘導擊穿光譜) 系統。這種二合一解決方案允許您使用同一臺儀器執行視覺(jué)和化學(xué)分析。
由此，您可將清潔度分析流程縮減為一步，并避免使用電子顯微鏡 (SEM/EDS) 等手段執行代價(jià)高昂的下游分析。

全新徠卡清潔度解決方案帶給您的優(yōu)勢：

• 利用快捷的化學(xué)分析更快地找出污染源

• 在內部完成所有步驟，省時(shí)省錢(qián)

• 盡量減少甚至不用 SEM/EDS 進(jìn)行深入分析
       - 無(wú)需額外的濾片樣品制備或轉移到其它設備
       - 無(wú)需重新定位感興趣區域或調節系統

更快更輕松地執行清潔度分析。請在網(wǎng)站上進(jìn)一步了解我們全新的清潔度專(zhuān)家及 LIBS 二合一解決方案?；蛘咭部陕?lián)系當地的徠卡顯微系統有限公司銷(xiāo)售代表了解詳情。